Heinisch: Zentralmatura kommt wie geplant
Die Zentralmatura an den Schulversuchsschulen könne wie geplant durchgeführt werden, hat Bildungsministerin Gabriele Heinisch-Hosek (SPÖ) heute bekannt gegeben. Die Sicherheitsprüfung beim Bundesinstitut für Bildungsforschung (BIFIE) zur Zentralmatura ist positiv ausgefallen.
8. April 2017, 21:58
Mittagsjournal, 28.3.2014
Kein Sicherheitsrisiko mehr
Eltern, Schüler und Lehrer können aufatmen: Bildungsministerin Gabriele Heinisch Hosek hat heute entschieden: "Die neue Matura an den Schulversuchsschulen kann wie geplant durch das BIFIE durchgeführt werden. Das heißt, keine Lehrerin, kein Lehrer muss sich die Beispiel selbst suchen, es wird auch keine Ersatzpakete geben müssen. Und die Schülerinnen und Schüler können wie geplant was sie trainiert haben, nämlich diese neue Art der Matura, durchführen."
Bei dieser Prüfung durch den TÜV seien tatsächlich Sicherheitsmängel zum Vorschein gekommen, die umgehend behoben worden seien, so Heinisch-Hosek. Jetzt gebe es laut Experten kein erhöhtes Sicherheitsrisiko in diesem Bereich mehr.
Prüfung auch fürs Management
Ein Ergebnis dieser Prüfung war aber auch, dass hinsichtlich der Datensicherheit und auch anderer Prozesse und Abläufe im BIFIE ein grundsätzlicher Handlungsbedarf bestehe. Nun werde es eine entsprechende Prüfung geben, kündigt die Bildungsministerin an. PISA und Bildungsstandards bleiben deshalb weiter ausgesetzt. Auch das kritisierte Management werde einer Prüfung unterzogen, ob Managementfehler gemacht wurden, so Heinisch-Hosek. Etwaige Schlüsse darauf wolle sie aber nicht vorwegnehmen.
Die Kritik, dass seitens des Unterrichtsministeriums aus Spargründen eine frühere Datensicherheitsprüfung abgelehnt wurde, entspreche nicht der Wahrheit, so die Ministerin: "Der Aufsichtsrat hat einstimmig vier Tage, bevor die Tageszeitung 'Die Presse' diese Geschichte herausgebracht hat, am 21.2., das BIFIE ermächtigt, dem TÜV einem Angebot näher zu treten." Dazu kam es dann durch das Auftauchen des Datenlecks dann allerdings nicht mehr.
